Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation
autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Azad, Siavoosh Payandeh
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
allikas
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2018
leheküljed
5 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 27-30 May, 2018
konverentsi toimumispaik
Florence, Italy
leitav
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2018.8350936
märksõna
mikroprotsessorid
testimine
arvuti arhitektuur
riistvara
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/56190
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85057101928&origin=inward&txGid=49e361500f6fe5902264fae2d90ceb95
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000451218700050
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
vormimärksõna
konverentsikogumikud
võtmesõna
circuit faults
adders
built-in self-test
microprocessors
computer architecture
hardware
ISBN
978-1-5386-4881-0
märkused
Bibliogr.: 28 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus