Электрофизические свойства тонкопленочных барьеров шоттки на основе сульфида кадмия, изготовленного методом химической пульверизации
vastutusandmed
М.И. Крункс, Э.Я. Мелликов, М.И. Сейлентхал
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
с. 49-55 : ил
seeria-sari
seeria variantpealkiri
leitav
ISSN
0136-3549
0320-3395
märkused
Библиогр. : 6 назв
Abstract: Electrophysical properties of cadmium sulphide thin film Schottky barriers manufactured by chemical spray deposition
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
vene
klassifikaator
Крункс, М.И., Мелликов, Э.Я., Сейлентхал, М.И. Электрофизические свойства тонкопленочных барьеров шоттки на основе сульфида кадмия, изготовленного методом химической пульверизации // Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1986. с. 49-55 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620, Полупроводниковые материалы ; 7).