On BTI aging rejuvenation in memory address decoders
autor
vastutusandmed
Gürsoy, Cemil Cem; Kraak, Daniel; Ahmed, Foisal; Taouil, Mottaqiallah; Jenihhin, Maksim; Hamdioui, Said
allikas
2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium, LATS 2022
ilmumiskoht
Piscataway, NJ
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
Code 184360
konverentsi nimetus, aeg
23rd IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2022
konverentsi toimumispaik
Montevideo, Uruguay
ISBN
978-166545707-1
märkused
Bibliogr.: 23 ref.
Open Access
Open Access (roheline)
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
Scopus
Scopus
klassifikaator
Gürsoy, C.C., Kraak, D., Ahmed, F., Taouil, M., Jenihhin, M., Hamdioui, S. On BTI aging rejuvenation in memory address decoders // 2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium, LATS 2022. Piscataway, NJ : IEEE, 2022. Code 184360.