Diagnosis and correction of multiple design errors using critical path tracing and mutation analysis
autor
Hantson, Hanno
Repinski, Urmas
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Hanno Hantson, Urmas Repinski, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar
allikas
LATW 2012 : 13th IEEE Latin-American Test Workshop proceedings : April 10th-13th, 2012, Quito, Ecuador
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2012
leheküljed
[6 p.] : ill
konverentsi nimetus, aeg
LATW 2012: 13th IEEE Latin-American Test Workshop, April 10-13, 2012
konverentsi toimumispaik
Quito, Ecuador
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/6261234
märksõna
algoritmid
disain
analüüs
verifikatsioon
ISBN
978-1-4673-2356-7
märkused
Bibliogr.: 13 ref
keel
inglise