Hierarchical test generation for digital circuits represented by Decision Diagrams : thesis on informatics and system engineering
autor
juhendaja
vastutusandmed
Jaan Raik ; [supervisor Raimund Ubar]
dissertatsiooni liik
doktoritöö
ülikool/teadusasutus
Tallinna Tehnikaülikool
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
108, [15] p. : ill
seeria-sari
Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering, ISSN 1406-4731 ; 8
vormimärksõna
ISBN
9985-59-249-2
märkused
List of publications: 63 ref. Bibliogr. p. 103-108. Thesis (Dr. of Science in Computer Engineering) : Tallinn Technical University, 2001
Raik, Jaan, 1972-
Ubar, Raimund, 1941-
Pealkirja tõlge: Hierarhiline testigenereerimine digitaalskeemide otsustusdiagrammide mudelil
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Raik, J. Hierarchical test generation for digital circuits represented by Decision Diagrams : thesis on informatics and system engineering. Tallinn : TTU Press, 2001. 108, [15] p. : ill. (Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering, ISSN 1406-4731 ; 8).