Test generation for digital systems
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Ubar, R.
allikas
Digest of papers - FTCS 13th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing, June 28 - 30, 1983, Milano, Italy
ilmumiskoht
New York
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Soc. Press
ilmumisaasta
1983
leheküljed
p. 374-377
konverentsi nimetus, aeg
13th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing (FTCS), June 28 - 30, 1983
konverentsi toimumispaik
Milano
märksõna
digitaaltehnika
testimine
TTÜ struktuuriüksus
elektronarvutite kateeder
keel
inglise