kompaktne vaade prindi

Electro-thermal simulations and forward surge current failure prediction for SiC diodes

autor
Velmre, Enn
Udal, Andres
vastutusandmed
E. Velmre, A. Udal
allikas
Program of 17th Nordic Semiconductor Meeting, Trondheim, Norwey, June 17-20, 1996
ilmumiskoht
[S.l.]
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 28
märksõna
ränikarbiid
dioodid
elektrotermia
simulatsioon
TTÜ struktuuriüksus
elektroonikainstituut
keel
inglise
Velmre, E., Udal, A. Electro-thermal simulations and forward surge current failure prediction for SiC diodes // Program of 17th Nordic Semiconductor Meeting, Trondheim, Norwey, June 17-20, 1996. [S.l.], 1996. p. 28.