Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
autor
Raik, Jaan
Fujiwara, Hideo
Ubar, Raimund-Johannes
Krivenko, Anna
vastutusandmed
Jaan Raik, Hideo Fujiwara, Raimund Ubar, Anna Krivenko
allikas
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society Press
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 21-26 : ill
konverentsi nimetus, aeg
17th Asian Test Symposium, November 24-27, 2008
konverentsi toimumispaik
Sapporo, Japan
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22
märksõna
integraallülitused
rikked
ISSN
1081-7735
ISBN
978-0-7695-3396-4
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise