Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional
autor
Lai, Xinhui
Balakrishnan, Aneesh
Lange, Thomas
Jenihhin, Maksim
Ghasempouri, Tara
Raik, Jaan
Alexandrescu, Dan
vastutusandmed
Xinhui Lai, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maksim Jenihhin, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Dan Alexandrescu
allikas
Microprocessors and microsystems
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 71
ilmumisaasta
2019
leheküljed
art. 102867, 13 p. : ill
leitav
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867
märksõna
riistvara
verifikatsioon
tehisõpe
võtmesõna
extra-functional verification
functional verification
survey
taxonomy
security verification
reliability verification
power verification
machine learning
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 86 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/15552
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85071020969&origin=inward&txGid=87d2f90199a10d44d941b14d594d2f30
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=MICROPROCESS%20MICROSY&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000500052000047
kategooria (üld)
Computer science
Arvutiteadus
kategooria (alam)
Computer science. Computer networks and communications
Arvutiteadus. Arvutivõrgud ja side
Computer science. Hardware and architecture
Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur
Computer science. Software
Arvutiteadus. Tarkvara
Computer science. Artificial intelligence
Arvutiteadus. Tehisintellekt
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus