Kask, E., Grossberg, M., Josepson, R., Salu, P., Timmo, K., Krustok, J.

täiskirje prindi

Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy

autor

Kask, Erkki

Grossberg, Maarja

Josepson, Raavo

Salu, Pille

Timmo, Kristi

Krustok, Jüri

vastutusandmed

E. Kask, M. Grossberg, R. Josepson, P. Salu, K. Timmo, J. Krustok

allikas

Materials science in semiconductor processing

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 16, 3

ilmumisaasta

2013

leheküljed

p. 992-996 : ill

ISSN

1369-8001

märkused

Bibliogr.: 22 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

vaseühendid

fotoluminestsents

fluorestsentsspektroskoopia

võtmesõna

Cu2ZnSnSe4

Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4

admittance spectroscopy

photoluminescence spectroscopy

defects

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

materjaliteaduse instituut

füüsikainstituut

Kask, E., Grossberg, M., Josepson, R., Salu, P., Timmo, K., Krustok, J. Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy // Materials science in semiconductor processing (2013) Vol. 16, 3, p. 992-996 : ill.