prindi

Hierarchical approaches to test generation and fault simulation

autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Ubar, R.
allikas
Radioelectronics and informatics
ajakirja aastakäik number kuu
3
ilmumisaasta
2003
leheküljed
p. 204
märksõna
testid
rikked
simulatsioon
ISSN
1563-0064
märkused
Special issue: Proceedings of East-West Design & Test Conference (EWDTC’03): Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 17-21, 2003
keel
inglise
Ubar, R.-J. Hierarchical approaches to test generation and fault simulation // Radioelectronics and informatics (2003) 3, p. 204.