Shibin, K., Chickermane, V., Keller, B., Papameletis, C., Marinissen, E.J.

täiskirje prindi

At-speed testing of inter-die connections of 3D-SICs in the presence of shore logic

autor

Shibin, Konstantin

Chickermane, Vivek

Keller, Brion

Papameletis, Christos

Marinissen, Erik Jan

vastutusandmed

Konstantin Shibin, Vivek Chickermane, Brion Keller, Christos Papameletis, Erik Jan Marinissen

allikas

2015 Asian Test Symposium : ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings

ilmumiskoht

Los Alamitos

kirjastus/väljaandja

CPS

ilmumisaasta

2015

leheküljed

p. 79-84 : ill

konverentsi nimetus, aeg

24th Asian Test Symposium ATS 2015, 22-25 November, 2015

konverentsi toimumispaik

Mumbai, India

leitav

http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2015.21

ISBN

978-1-4673-9739-1

märkused

Bibliogr.: 26 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

arvuti arhitektuur

testimine

Shibin, K., Chickermane, V., Keller, B., Papameletis, C., Marinissen, E.J. At-speed testing of inter-die connections of 3D-SICs in the presence of shore logic // 2015 Asian Test Symposium : ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings. Los Alamitos : CPS, 2015. p. 79-84 : ill. http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2015.21