täiskirje prindi

Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits

autor
Pagliarini, Samuel Nascimento
Benites, Luis
Martins, Mayler
Rech, Paolo
Kastensmidt, Fernanda
vastutusandmed
Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 68, 5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1045-1053
leitav
ISSN
0018-9499
märkused
Bibliogr.: 23 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus
Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F. Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits // IEEE transactions on nuclear science (2021) vol. 68, 5, p. 1045-1053. https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643