Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits
autor
vastutusandmed
Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 68, 5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1045-1053
märksõna
võtmesõna
ISSN
0018-9499
märkused
Bibliogr.: 23 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
kvartiil
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F. Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits // IEEE transactions on nuclear science (2021) vol. 68, 5, p. 1045-1053. https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643