JÄNES : a NAS framework for ML-based EDA applications
vastutusandmed
Hardi Selg, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee
allikas
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
konverentsi nimetus, aeg
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 06-08 October 2021
konverentsi toimumispaik
Athens, Greece
märksõna
ISSN
2765-933X
ISBN
978-1-6654-1609-2
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Selg, H., Jenihhin, M., Ellervee, P. JÄNES : a NAS framework for ML-based EDA applications // IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. : IEEE, 2021.