täiskirje prindi

Re-using chip level DFT at board level

autor
Gu, Xinli
Jutman, Artur
vastutusandmed
Xinli GU, ... Artur Jutman, ... [et al.]
allikas
ilmumiskoht
Los Alimitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
1 p
konverentsi nimetus, aeg
2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS),May 28th–June 1st, 2012
konverentsi toimumispaik
Annecy, France
ISBN
978-1-4673-0697-3
keel
inglise
võtmesõna
board test
board diagnosis
chip access
IEEE P1687
IEEE 1149.1
Gu, X., Jutman, A. et al. Re-using chip level DFT at board level // Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th–June 1st, 2012, Annecy, France. Los Alimitos : IEEE Computer Society, 2012. 1 p.