Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
digitaalelektroonika (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
Tühista
teaviku laadid
raamat
artikkel ajakirjas
artikkel ajalehes
artikkel kogumikus
dissertatsioon
Open Access
Teaduspublikatsioon
aasta
Kirjeid leitud
35
Vaata veel..
(2/3)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(35)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
An ontology-based intelligent learning object for teaching the basics of digital logic
Robal, Tarmo
;
Kann, Taavi
;
Kalja, Ahto
2011 IEEE International Conference on Microelectronic Systems Education (MSE) : 5-6 June 2011, San Diego, CA, USA
2011
/
p. 106-107
artikkel kogumikus
2
raamat
BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia)
Rang, Toomas
;
Min, Mart
;
Ubar, Raimund-Johannes
1994
raamat
3
raamat
BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia
Rang, Toomas
2002
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
4
raamat
BEC 2004 : Baltic Electronics Conference : Post-Graduate Student Session : Tallinn University of Technology, October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
https://www.ester.ee/record=b1982896*est
raamat
5
raamat
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
6
raamat
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
Rang, Toomas
2006
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
7
raamat
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
Rang, Toomas
2008
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
8
raamat
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
Rang, Toomas
2010
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
9
raamat
BEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia
Rang, Toomas
2014
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
10
raamat
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
Rang, Toomas
2016
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
raamat
11
artikkel ajakirjas
Case study in testing digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Baltic electronics
1995
/
1, p. 24-27
artikkel ajakirjas
12
artikkel kogumikus
Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany
2011
/
p. 81-86
artikkel kogumikus
13
raamat
Digitaalelektroonika : laboratoorsete tööde kogumik
1994
http://www.ester.ee/record=b1065462*est
raamat
14
raamat
Digitaalelektroonika alused : skeemid : abimaterjal loengute jälgimise ja konspekteerimise hõlbustamiseks
1994
https://www.ester.ee/record=b1065765*est
raamat
15
raamat
Digitaalsüsteemide diagnostika
Ubar, Raimund-Johannes
2005
http://www.ester.ee/record=b2097071*est
raamat
16
dissertatsioon
Digital test in WEB-based environment
Ivask, Eero
2006
https://www.ester.ee/record=b2158119*est
dissertatsioon
17
artikkel kogumikus
Distributed approach for genetic test generation in the field of digital electronics
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Intelligent Distributed Computing, Systems and Applications : proceedings of the 2nd International Symposium on Intelligent Distributed Computing : IDC 2008 : Catania, Italy, 2008
2008
/
p. 127-136
artikkel kogumikus
18
artikkel ajakirjas
Effective self adaptive multiple source localization technique by primal dual interior point method in binary sensor networks
Khan, Muhidul Islam
;
Xia, Kewen
IEEE communications letters
2017
/
p. 1119-1122 : ill
https://doi.org/10.1109/LCOMM.2017.2657508
artikkel ajakirjas
19
artikkel kogumikus
E-learning of digital logic
Robal, Tarmo
;
Brik, Marina
;
Aarna, Margit
EWME 2006 proceedings : 6th International Workshop on Microelectronics Education : 8-9 June, 2006, Stockholm, Sweden
2006
/
p. 120-123 : ill
artikkel kogumikus
20
artikkel kogumikus
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
Functional level testability analysis for digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuchcinski, Ktzysztof
ETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 1993
1993
/
p. 545-546
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 596-603 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341529
artikkel kogumikus
23
raamat
Hybrid built-in self-test and test generation techniques for digital systems
Jervan, Gert
2005
https://www.ester.ee/record=b2177537*est
raamat
24
dissertatsioon
Investigation and development of test generation methods for control part of digital systems
Brik, Marina
2002
http://www.ester.ee/record=b1688656*est
dissertatsioon
25
dissertatsioon
Methods for improving the accuracy and efficiency of fault simulation in digital systems = Meetodid digitaalsüsteemide rikete simuleerimise täpsuse ja efektiivsuse tõstmiseks
Kõusaar, Jaak
2019
https://digi.lib.ttu.ee/i/?11667
dissertatsioon
Kirjeid leitud 35, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
järgmine
pealkiri
2
1.
Digitaalelektroonika : laboratoorsete tööde kogumik
2.
Digitaalelektroonika alused : skeemid : abimaterjal loengute jälgimise ja konspekteerimise hõlbustamiseks
märksõna
1
1.
digitaalelektroonika