prindi

Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits

autor
Kostin, Sergei
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
vastutusandmed
Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik
allikas
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 81-86
konverentsi nimetus, aeg
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011
konverentsi toimumispaik
Gottbus, Germany
märksõna
digitaalelektroonika
digitaalintegraallülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
ISBN
978-1-4244-9753-9
märkused
Bibliogr.: 19 ref
keel
inglise
Kostin, S., Ubar, R., Raik, J. Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits // Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany. [S.l.] : IEEE, 2011. p. 81-86.