Kostin, S., Ubar, R., Raik, J. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits

autor

Kostin, Sergei

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

vastutusandmed

Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik

allikas

Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2011

leheküljed

p. 81-86

konverentsi nimetus, aeg

IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011

konverentsi toimumispaik

Gottbus, Germany

ISBN

978-1-4244-9753-9

märkused

Bibliogr.: 19 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaalelektroonika

digitaalintegraallülitused

rikked

diagnostika (tehnika)

Kostin, S., Ubar, R., Raik, J. Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits // Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany. [S.l.] : IEEE, 2011. p. 81-86.