Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
otsustusdiagrammid (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
80
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(80)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
A new testability calculation method to guide RTL test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2005
/
p. 71-82 : ill
https://doi.org/10.1007/s10836-005-5288-5
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Application of high-level decision diagrams for simulation-based verification tasks
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Estonian journal of engineering
2010
/
1, p. 56-77 : ill
artikkel ajakirjas
3
artikkel ajakirjas
Application of structurally synthesized binary decision diagrams for timing simulation of digital circuits
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
2001
/
4, p. 269-288 : ill
artikkel ajakirjas
4
artikkel kogumikus
Assertion checking with PSL and high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Digest of papers IEEE 8th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'07 : October 12-13, 2007, Beijing, China
2007
/
p. 105-110 : ill
https://pld.ttu.ee/~maksim/phd_papers/%5B12%5D%20wrtlt%2707.pdf
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Automated correction of design errors by edge redirection on high-level decision diagrams
Karputkin, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tombak, Mati
;
Raik, Jaan
13th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012
2012
/
p. 686-693 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/6113980
artikkel kogumikus
6
artikkel ajakirjas
Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators
Raik, Jaan
;
Repinski, Urmas
;
Tšepurov, Anton
;
Hantson, Hanno
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
Microprocessors and microsystems
2013
/
p. 505-513 : ill
artikkel ajakirjas
7
artikkel kogumikus
Automated software-based self-test generation for microprocessors
Jasnetski, Artjom
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
Proceedings of the 24st International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2017 : Bydgoszcz, Poland, June 19-21, 2014
2017
/
p. 453-458 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2017.8005252
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Automated test program synthesis for digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of 7th International Conference
2005
/
p. 171-180
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
Automatic generation of EFSMs and HLDDs for functional ATPG
Tšepurov, Anton
;
Guglielmo, Giuseppe di
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 143-146 : ill
artikkel kogumikus
10
artikkel ajakirjas
Canonical representations of high-level decision diagrams
Karputkin, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Tombak, Mati
Estonian journal of engineering
2010
/
1, p. 39-55 : ill
artikkel ajakirjas
11
artikkel kogumikus
Code coverage analysis on high level decision diagrams
Reinsalu, Uljana
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 56-59 : ill
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
Code coverage analysis using high-level decision diagrams [Electronic resource]
Raik, Jaan
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Ellervee, Peeter
2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
2008
/
p. 201-207 : ill. [CD-ROM]
https://ieeexplore.ieee.org/document/4538786
artikkel kogumikus
13
artikkel ajakirjas
DECIDER : a system for hierarchical test pattern generation
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Radioelectronics and informatics
2003
/
p. 40-45 : ill
https://www.researchgate.net/publication/250395975_DECIDER_A_System_for_Hierarchical_Test_Pattern_Generation
artikkel ajakirjas
14
artikkel ajakirjas
Decision diagrams - from a mathematical notion to engineering applications
Stankovic, Radomir S.
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Astola, Jaakko
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2011
/
p. 281-301 : ill
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103281S
artikkel ajakirjas
15
artikkel kogumikus
Decision diagrams and digital test
Ubar, Raimund-Johannes
ECMS 2003 : 6th International Workshop on Electronics, Control, Measurment and Signals : Liberec, Czechia, June 2-4, 2003
2003
/
p. 266-273 : ill
http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_35(2005)4p187.pdf
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
Decision diagrams and digital test
Ubar, Raimund-Johannes
41th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials : MIDEM 2005 : Ribno at Bled, Slovenia : invited plenary paper
2005
/
p. 15-26
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
Decision diagrams for diagnostic modeling
Ubar, Raimund-Johannes
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
2015
/
p. 43
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
Dependability evaluation in fault-tolerant systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ellervee, Peeter
Computer Science Meets Automation : 10-13 September 2007 : proceedings. Volume II
2007
/
p. 147-152 : ill
https://www.db-thueringen.de/receive/dbt_mods_00008864
artikkel kogumikus
19
artikkel kogumikus
Design error diagnosis using backtrace algorithm on decision diagrams
Repinski, Urmas
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
p. 93-96
artikkel kogumikus
20
artikkel kogumikus
Diagnostic modeling of digital systems with low- and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
LATW2013 : 14th IEEE Latin-American Test Workshop, Cordoba, Argentina, April 3-5, 2013 : [proceedings]
2013
/
[1] p
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
Diagnostic modeling of digital systems with multi-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Jenihhin, Maksim
Design and test technology for dependable systems-on-chip
2011
/
p. 92-118 : ill
https://www.researchgate.net/publication/344994231_Diagnostic_Modeling_of_Digital_Systems_with_Multi-Level_Decision_Diagrams
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
Diagnostic modeling of microprocessors with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Jenihhin, Maksim
;
Brik, Marina
;
Istenberg, Martin
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 147-150 : ill
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
Diagnostic modelling of digital systems with binary and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Kruus, Helena
;
Lensen, Harri
;
Evartson, Teet
Progress in industrial mathematics at ECMI 2006
2008
/
p. 902-907 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-540-71992-2_158
artikkel kogumikus
24
artikkel ajakirjas
Diagnostic modelling of digital systems with decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Вестник Томского государственного университета : приложение
2004
/
август, материалы международных, всесоюзных и региональных научных конференций, симпозиумов, школ, проводимых в ТГУ, с. 174-179 : ил
artikkel ajakirjas
25
artikkel kogumikus
Diagnostic modelling of digital systems with multi-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Evartson, Teet
;
Kruus, Margus
;
Lensen, Harri
Proceedings of the 17th IASTED International Conference on Modelling and Simulation : May 24-26, 2006, Montreal, Quebec, Canada
2006
/
p. 207-212 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 80, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
4
järgmine
märksõna
1
1.
otsustusdiagrammid
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT