prindi

Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators

autor
Raik, Jaan
Repinski, Urmas
Tšepurov, Anton
Hantson, Hanno
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Jaan Raik, Urmas Repinski, Anton Chepurov, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin
allikas
Microprocessors and microsystems
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37, 4-5
ilmumisaasta
2013
leheküljed
p. 505-513 : ill
konverentsi nimetus, aeg
28th NORCHIP Conference, November 15-16, 2010
konverentsi toimumispaik
Tampere, Finland
märksõna
integraallülitused
arvuti arhitektuur
vead
otsustusdiagrammid
algoritmid
programmeerimiskeeled
võtmesõna
design errors
debug
mutation operators
high-level decision diagrams
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 29 ref
Special issue on NORCHIP 2012
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Raik, J., Repinski, U., Tšepurov, A., Hantson, H., Ubar, R., Jenihhin, M. Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators // Microprocessors and microsystems (2013) Vol. 37, 4-5, p. 505-513 : ill.