Dependence of multifractal analysis parameters on the darkness of a processed image

vastutusandmed
Merike Martsepp, Tõnu Laas, Katrin Laas, Jaanis Priimets, Siim Tõkke, Valdek Mikli
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 156
ilmumisaasta
leheküljed
art. 111811
võtmesõna
SEM
optical microscope
image darkness
ISSN
0960-0779
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
kvartiil
Q1
keel
eesti
Martsepp, M., Laas, T., Laas, K., Priimets, J., Tõkke, S., Mikli, V. Dependence of multifractal analysis parameters on the darkness of a processed image // Chaos, Solitons & Fractals (2022) vol. 156, art. 111811. https://doi.org/10.1016/j.chaos.2022.111811