Otsing - TalTech teadusportaal

On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networksDamljanovic, Aleksa; Squillero, Giovanni; Gürsoy, Cemil Cem; Jenihhin, MaksimVLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]2019 / p. 335-340 : ill https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1