prindi

SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logic

autor
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, ... [et al.]
allikas
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 223-228 : ill
konverentsi nimetus, aeg
18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015, 22-24 April, 2015
konverentsi toimumispaik
Belgrade, Serbia
märksõna
elektronlülitused
elutsüklid (tehnika)
kompuutermodelleerimine
võtmesõna
Negative Bias Temperature Instability (NBTI)
NBTI-induced path delay estimation
static timing analysis
predictive model
aging
logic circuit
ISBN
978-1-4799-6780-3
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Kostin, S., Raik, J., Ubar, R., Jenihhin, M. et al. SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logic // 2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2015. p. 223-228 : ill.