Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ivask, Eero (autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 39
Vaata veel.. (4/63)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (39)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
26

artikkel kogumikus

Low-cost CAD system for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Paomets, Priidu; Ivask, Eero; Jervan, Gert; Markus, AnttiMicroelectronics education : proceedings of the European Workshop, Grenoble, France, 5-6 Feb 19961996 / p. 185-188

artikkel kogumikus
27

artikkel kogumikus

Mapping of VHDL structures for generic EDA database format IRSYDIvask, Eero; Ellervee, PeeterThe 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings2000 / p. 317-320 : ill

artikkel kogumikus
28

artikkel kogumikus

Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, Marina23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 22002 / p. 617-620 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1003333

artikkel kogumikus
29

artikkel kogumikus

Multi-level fault simulation of digital systems on decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, MarinaThe First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2002, 29-31 January 2002, Christchurch, New Zealand : proceedings2002 / p. 86-91 : ill

artikkel kogumikus
30

artikkel ajalehes

Nädal Hannoveri rahvusvahelisel tööstusmessilIvask, Eero; Põldre, JüriTehnikaülikool1998 / 25. mai, lk. 8-9: ill

artikkel ajalehes
31

artikkel kogumikus

On using genetic algorithm for test generationBrik, Marina; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Ivask, EeroBEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia2004 / p. 233-236 : ill

artikkel kogumikus
32

artikkel kogumikus

Research environment for teaching digital testIvask, Eero; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichSynergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 22004 / p. 468-473 : ill https://pld.ttu.ee/dildis/publications/IWK'2004_res_inv.pdf

artikkel kogumikus
33

artikkel ajakirjas

Test cover calculation in digital systems with word-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, MarinaВестник Томского государственного университета2002 / с. 315-319 : ил

artikkel ajakirjas
34

artikkel ajakirjas

Turbo tester - diagnostic package for research and trainingAarna, Margit; Ivask, Eero; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Vislogubov, Vladislav; Wuttke, Heinz-DietrichRadioelectronics and informatics2003 / p. 69-73 : ill

artikkel ajakirjas
35

artikkel kogumikus

Web-based environment for digital electronics test toolsIvask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Schneider, AndreVirtual Enterprises and collaborative networks : IFIP 18th World Computer Congress [and] TC5/WG5.5 - 5th Working Conference on Virtual Enterprises : 22-27 August 2004, Toulouse, France2004 / p. 435-442 : ill

artikkel kogumikus
36

artikkel kogumikus

Web-based framework for distributed remote laboratory in the field of digital system testIvask, Eero; Jutman, Artur; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 182-187 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610183

artikkel kogumikus
37

artikkel kogumikus

Web-based framework for parallel distributed test [Electronic resource]Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 20082008 / p. 271-274 : ill. [CD-ROM] https://ieeexplore.ieee.org/document/4538800

artikkel kogumikus
38

artikkel kogumikus

VHDL front-end for high-level synthesis tool xTractorIvask, Eero; Ellervee, PeeterBEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia2004 / p. 111-114 : ill

artikkel kogumikus
39

artikkel kogumikus

VILAB test generation tools running under the MOSCITO systemSchneider, Andre; Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesVILAB User Forum : Györ, Hungary, 20012001 / [12] p

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 39, kuvan 26 - 39

eelmine
1
2
järgmine

1. Ivask, Eero 1971
2. Ivask, Angela 1975
3. Ivask, Jekaterina
4. Ivask, Jüri 1961
5. Ivask, Kaire 1964
6. Ivask, Mari 1951
7. Haldre, Eero 1961
8. Muna, Eero 1912-1982
9. Rannak, Eero 1907-1972
10. Tohver, Eero 1973
11. Tuhkanen, Eero 1979
12. Uustalu, Eero 1967

1. Ivask, Angela
2. Ivask, Jüri, 1961-
3. Ivask, Mari, 1951-
4. Endjärv, Eero
5. Epner, Eero
6. Kajosaari, Eero, 1927-
7. Tuhkanen, Eero
8. Vasar, Eero
9. Veiderma, Eero
10. Väljaots, Eero

1. EERO. Kanada heategevusorganisatsioon

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu