Brik, M., Raik, J., Ubar, R.-J., Ivask, E.

täiskirje prindi

On using genetic algorithm for test generation

autor

Brik, Marina

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

Ivask, Eero

vastutusandmed

M.Brik, J.Raik, R.Ubar, E.Ivask

allikas

BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia

ilmumiskoht

Tallinn

kirjastus/väljaandja

Tallinn University of Technology

ilmumisaasta

2004

leheküljed

p. 233-236 : ill

ISBN

9985-59-462-2

märkused

Bibliogr.: 8 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

testimine

geneetilised algoritmid

Brik, M., Raik, J., Ubar, R.-J., Ivask, E. On using genetic algorithm for test generation // BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia. Tallinn : Tallinn University of Technology, 2004. p. 233-236 : ill.