Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Journal of electronic testing : theory and applications (allikas)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/3)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
A new testability calculation method to guide RTL test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2005
/
p. 71-82 : ill
https://doi.org/10.1007/s10836-005-5288-5
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Design error diagnosis with re-synthesis in combinational circuits
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2003
/
1, p. 73-82 : ill
https://link.springer.com/article/10.1023/A:1021948013402
artikkel ajakirjas
3
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
4
artikkel ajakirjas
On the reuse of TLM mutation analysis at RTL
Guarnieri, Valerio
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2012
/
p. 435-448 : ill
artikkel ajakirjas
5
artikkel ajakirjas
PSL assertion checking using temporally extended high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2009
/
6, p. 289-300 : ill
https://pld.ttu.ee/home/maksim/phd_papers/%5B11%5D%20latw%2708.pdf
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
3
1.
inverse problem theory/applications
2.
inverse problems theory/applications
3.
courses on electronic testing and design
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT