High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 36
ilmumisaasta
leheküljed
p. 87-103
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 43 ref
keel
inglise
võtmesõna
functional test generation
low-level fault redundancy
TTÜ struktuuriüksus
Oyeniran, A.S., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors // Journal of electronic testing : theory and applications (2020) vol. 36, p. 87-103.