Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
MAC layer (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/54)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Machine learning meets communication networks : current trends and future challenges
Ahmad, Ijaz
;
Shahabuddin, Shariar
;
Malik, Hassan
;
Leppänen, Teemu
;
Loven, Lauri
;
Anttonen, Antti
;
Sodhro, Ali Hassan
;
Alam, Muhammad Mahtab
;
Juntti, Markku
;
Yla-Jääski, Antti
IEEE Access
2020
/
art. 9274307, p. 223418-223460
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3041765
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
53
1.
MAC layer
2.
Hybrid MAC
3.
MAC
4.
Media Access Control (MAC)
5.
medium access control (MAC)
6.
PHY and MAC parameters
7.
absorber layer
8.
abstraction layer
9.
additive layer manufacturing
10.
atomic layer deposition
11.
bottom boundary layer
12.
boundary layer
13.
buffer layer
14.
Cd-free buffer layer
15.
composite layer
16.
cross-layer
17.
cross-layer fault tolerance
18.
cross-layer reliability
19.
deep layer
20.
double-layer capacitance
21.
Ekman layer
22.
electric double-layer
23.
electron transport layer
24.
Equivalent single layer
25.
glaze layer
26.
interface layer
27.
layer growing curvature method
28.
layer removing
29.
layer-wise displacement theory
30.
maximal two-layer exchange
31.
mechanically mixed layer (MML)
32.
monograin layer solar cell
33.
monograin layer solar cells
34.
network layer
35.
oxide layer
36.
physical layer
37.
seed layer
38.
selenium capping layer
39.
SiO2 interface layer
40.
sub-maximal two-layer exchange
41.
zero-strenght-layer
42.
zero‐strength layer
43.
zero-strength layer
44.
zero‐strength layer
45.
ZnS buffer layer
46.
thin layer chromatography
47.
Thin layer chromatography (TLC)
48.
thin-layer chromatography
49.
thin-layer rendering
50.
thin-layer rendering system
51.
thin-layer rendering systems
52.
tribo-layer
53.
upper mixed layer
tema kohta
1
1.
Mac Lane, Saunders
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT