Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/133)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
132
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
high reliability leadership
7.
high reliability management
8.
high reliability organizations
9.
materials reliability
10.
Network reliability
11.
power system reliability
12.
process reliability
13.
reliability
14.
reliability analysis
15.
Reliability engineering
16.
reliability optimization
17.
reliability prediction
18.
reliability verification
19.
semiconductor device reliability
20.
soft-error reliability
21.
substation reliability
22.
system reliability
23.
absorber layer
24.
abstraction layer
25.
additive layer manufacturing
26.
atomic layer deposition
27.
bottom boundary layer
28.
boundary layer
29.
buffer layer
30.
Cd-free buffer layer
31.
composite layer
32.
deep layer
33.
double-layer capacitance
34.
Ekman layer
35.
electric double-layer
36.
electron transport layer
37.
Equivalent single layer
38.
glaze layer
39.
interface layer
40.
layer growing curvature method
41.
layer removing
42.
layer-wise displacement theory
43.
MAC layer
44.
maximal two-layer exchange
45.
mechanically mixed layer (MML)
46.
monograin layer solar cell
47.
monograin layer solar cells
48.
network layer
49.
oxide layer
50.
physical layer
51.
seed layer
52.
selenium capping layer
53.
SiO2 interface layer
54.
sub-maximal two-layer exchange
55.
zero-strenght-layer
56.
zero‐strength layer
57.
zero-strength layer
58.
zero‐strength layer
59.
ZnS buffer layer
60.
thin layer chromatography
61.
Thin layer chromatography (TLC)
62.
thin-layer chromatography
63.
thin-layer rendering
64.
thin-layer rendering system
65.
thin-layer rendering systems
66.
tribo-layer
67.
upper mixed layer
68.
bay of parabolic cross-section
69.
bay with a parabolic cross-section
70.
bays of parabolic cross-section
71.
channels of variable cross-section
72.
cross border
73.
cross correlation
74.
cross laminated timber
75.
cross mediation
76.
cross subsidisation
77.
cross validation
78.
cross-border
79.
cross-border communication networks
80.
cross-border data exchange
81.
cross-border e-government
82.
cross-border e-services
83.
cross-border integration
84.
cross-border mobilit
85.
cross-border public services
86.
cross-border services
87.
cross-border spillovers
88.
cross-checking
89.
cross-correlation
90.
cross-country
91.
cross-country comparison
92.
cross-coupling reactions
93.
cross-cultural communication
94.
cross-cultural competences
95.
cross-cultural differences
96.
cross-cultural management
97.
cross-cultural study
98.
crossdependencies
99.
cross-disciplinary
100.
cross-enterprise
101.
Cross-Entropy method
102.
cross-governmental cooperation
103.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
104.
cross-innovation
105.
Cross-kingdom RNAi
106.
cross-lagged analysis
107.
cross-laminated timber
108.
cross‐laminated timber
109.
cross-language analysis
110.
cross-layered fault management
111.
cross-linguality
112.
cross-linking
113.
cross-linking polymerscross-linking polymers
114.
cross-order harmonic coupling
115.
cross-organizational
116.
cross-section
117.
cross-sectoral collaboration
118.
cross-sectoral innovation
119.
cross-sectorial innovation
120.
cross-shore jets
121.
cross-shore profile
122.
effective cross section method
123.
effective cross-section method
124.
electronic cross-communication
125.
intrastate and cross-border social movements
126.
metallographic cross section
127.
protein cross-linking
128.
reduced cross-section method
129.
sonogashira cross-coupling
130.
Suzuki cross-coupling
131.
Trans-European cross-border corridors
132.
two-photon cross section
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT