Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/151)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
150
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
hardware reliability
7.
high reliability
8.
high reliability leadership
9.
high reliability management
10.
high reliability organizations
11.
materials reliability
12.
Network reliability
13.
power system reliability
14.
process reliability
15.
reliability
16.
reliability analysis
17.
reliability assessment
18.
reliability assessment and enhancement
19.
Reliability engineering
20.
reliability evaluation
21.
reliability optimization
22.
reliability prediction
23.
reliability verification
24.
reliability-performance trade-off
25.
semiconductor device reliability
26.
soft-error reliability
27.
substation reliability
28.
system reliability
29.
absorber layer
30.
abstraction layer
31.
additive layer manufacturing
32.
atomic layer deposition
33.
atomic layer deposition (ALD)
34.
bay of parabolic cross-section
35.
bay with a parabolic cross-section
36.
bays of parabolic cross-section
37.
bottom boundary layer
38.
boundary layer
39.
buffer layer
40.
Cd-free buffer layer
41.
channels of variable cross-section
42.
composite layer
43.
cross border
44.
cross correlation
45.
cross laminated timber
46.
cross mediation
47.
cross subsidisation
48.
cross validation
49.
cross-border
50.
cross-border communication networks
51.
cross-border data exchange
52.
cross-border digital public services
53.
cross-border e-government
54.
cross-border e-services
55.
cross-border integration
56.
cross-border merger
57.
cross-border mergers
58.
cross-Border Mergers Directive
59.
cross-border mobilit
60.
cross-border public services
61.
cross-border services
62.
cross-border spillovers
63.
cross-checking
64.
cross-correlation
65.
cross-country
66.
cross-country comparison
67.
cross-coupling reactions
68.
cross-cultural communication
69.
cross-cultural competences
70.
cross-cultural differences
71.
cross-cultural management
72.
cross-cultural study
73.
crossdependencies
74.
cross-disciplinary
75.
cross-enterprise
76.
Cross-Entropy method
77.
cross-governmental cooperation
78.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
79.
cross-innovation
80.
Cross-kingdom RNAi
81.
cross-lagged analysis
82.
cross-laminated timber
83.
cross‐laminated timber
84.
cross-language analysis
85.
cross-layered fault management
86.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
87.
cross-linguality
88.
cross-linking
89.
cross-linking polymerscross-linking polymers
90.
cross-national case studies
91.
cross-order harmonic coupling
92.
cross-organizational
93.
cross-section
94.
cross-sectional studies
95.
cross-sectional study
96.
cross-sectoral collaboration
97.
cross-sectoral innovation
98.
cross-sectorial innovation
99.
cross-shore jets
100.
cross-shore profile
101.
deep layer
102.
double-layer capacitance
103.
effective cross section method
104.
effective cross-section method
105.
Ekman layer
106.
electric double-layer
107.
electron transport layer
108.
electronic cross-communication
109.
Equivalent single layer
110.
glaze layer
111.
hole transport layer
112.
interface layer
113.
intrastate and cross-border social movements
114.
layer growing curvature method
115.
layer removing
116.
layer-wise displacement theory
117.
MAC layer
118.
maximal two-layer exchange
119.
mechanically mixed layer (MML)
120.
metallographic cross section
121.
mixed layer drifter
122.
monograin layer solar cell
123.
monograin layer solar cells
124.
network layer
125.
oxide layer
126.
physical layer
127.
protein cross-linking
128.
reduced cross-section method
129.
seed layer
130.
selenium capping layer
131.
SiO2 interface layer
132.
sonogashira cross-coupling
133.
sub-maximal two-layer exchange
134.
Suzuki cross-coupling
135.
zero-strenght-layer
136.
zero‐strength layer
137.
zero-strength layer
138.
zero‐strength layer
139.
ZnS buffer layer
140.
thin layer chromatography
141.
Thin layer chromatography (TLC)
142.
thin-layer chromatography
143.
thin-layer rendering
144.
thin-layer rendering system
145.
thin-layer rendering systems
146.
TiO2 electron transport layer
147.
Trans-European cross-border corridors
148.
tribo-layer
149.
two-photon cross section
150.
upper mixed layer
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT