Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/135)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
134
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
high reliability leadership
7.
high reliability management
8.
high reliability organizations
9.
materials reliability
10.
Network reliability
11.
power system reliability
12.
process reliability
13.
reliability
14.
reliability analysis
15.
Reliability engineering
16.
reliability optimization
17.
reliability prediction
18.
reliability verification
19.
semiconductor device reliability
20.
soft-error reliability
21.
substation reliability
22.
system reliability
23.
absorber layer
24.
abstraction layer
25.
additive layer manufacturing
26.
atomic layer deposition
27.
atomic layer deposition (ALD)
28.
bottom boundary layer
29.
boundary layer
30.
buffer layer
31.
Cd-free buffer layer
32.
composite layer
33.
deep layer
34.
double-layer capacitance
35.
Ekman layer
36.
electric double-layer
37.
electron transport layer
38.
Equivalent single layer
39.
glaze layer
40.
interface layer
41.
layer growing curvature method
42.
layer removing
43.
layer-wise displacement theory
44.
MAC layer
45.
maximal two-layer exchange
46.
mechanically mixed layer (MML)
47.
monograin layer solar cell
48.
monograin layer solar cells
49.
network layer
50.
oxide layer
51.
physical layer
52.
seed layer
53.
selenium capping layer
54.
SiO2 interface layer
55.
sub-maximal two-layer exchange
56.
zero-strenght-layer
57.
zero‐strength layer
58.
zero-strength layer
59.
zero‐strength layer
60.
ZnS buffer layer
61.
thin layer chromatography
62.
Thin layer chromatography (TLC)
63.
thin-layer chromatography
64.
thin-layer rendering
65.
thin-layer rendering system
66.
thin-layer rendering systems
67.
tribo-layer
68.
upper mixed layer
69.
bay of parabolic cross-section
70.
bay with a parabolic cross-section
71.
bays of parabolic cross-section
72.
channels of variable cross-section
73.
cross border
74.
cross correlation
75.
cross laminated timber
76.
cross mediation
77.
cross subsidisation
78.
cross validation
79.
cross-border
80.
cross-border communication networks
81.
cross-border data exchange
82.
cross-border e-government
83.
cross-border e-services
84.
cross-border integration
85.
cross-border mobilit
86.
cross-border public services
87.
cross-border services
88.
cross-border spillovers
89.
cross-checking
90.
cross-correlation
91.
cross-country
92.
cross-country comparison
93.
cross-coupling reactions
94.
cross-cultural communication
95.
cross-cultural competences
96.
cross-cultural differences
97.
cross-cultural management
98.
cross-cultural study
99.
crossdependencies
100.
cross-disciplinary
101.
cross-enterprise
102.
Cross-Entropy method
103.
cross-governmental cooperation
104.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
105.
cross-innovation
106.
Cross-kingdom RNAi
107.
cross-lagged analysis
108.
cross-laminated timber
109.
cross‐laminated timber
110.
cross-language analysis
111.
cross-layered fault management
112.
cross-linguality
113.
cross-linking
114.
cross-linking polymerscross-linking polymers
115.
cross-order harmonic coupling
116.
cross-organizational
117.
cross-section
118.
cross-sectional study
119.
cross-sectoral collaboration
120.
cross-sectoral innovation
121.
cross-sectorial innovation
122.
cross-shore jets
123.
cross-shore profile
124.
effective cross section method
125.
effective cross-section method
126.
electronic cross-communication
127.
intrastate and cross-border social movements
128.
metallographic cross section
129.
protein cross-linking
130.
reduced cross-section method
131.
sonogashira cross-coupling
132.
Suzuki cross-coupling
133.
Trans-European cross-border corridors
134.
two-photon cross section
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT