Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/152)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
151
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
hardware reliability
7.
high reliability
8.
high reliability leadership
9.
high reliability management
10.
high reliability organizations
11.
materials reliability
12.
Network reliability
13.
power system reliability
14.
process reliability
15.
reliability
16.
reliability analysis
17.
reliability assessment
18.
reliability assessment and enhancement
19.
Reliability engineering
20.
reliability evaluation
21.
reliability optimization
22.
reliability prediction
23.
reliability verification
24.
reliability-performance trade-off
25.
semiconductor device reliability
26.
soft-error reliability
27.
substation reliability
28.
system reliability
29.
absorber layer
30.
abstraction layer
31.
additive layer manufacturing
32.
atomic layer deposition
33.
atomic layer deposition (ALD)
34.
bay of parabolic cross-section
35.
bay with a parabolic cross-section
36.
bays of parabolic cross-section
37.
bottom boundary layer
38.
boundary layer
39.
buffer layer
40.
Cd-free buffer layer
41.
channels of variable cross-section
42.
composite layer
43.
cross border
44.
cross correlation
45.
cross laminated timber
46.
cross mediation
47.
cross subsidisation
48.
cross validation
49.
cross-border
50.
cross-border communication networks
51.
cross-border data exchange
52.
cross-border digital public services
53.
cross-border e-government
54.
cross-border e-services
55.
cross-border integration
56.
cross-border merger
57.
cross-border mergers
58.
cross-Border Mergers Directive
59.
cross-border mobilit
60.
cross-border public services
61.
cross-border services
62.
cross-border spillovers
63.
cross-checking
64.
cross-correlation
65.
cross-country
66.
cross-country comparison
67.
cross-coupling reactions
68.
cross-cultural communication
69.
cross-cultural competences
70.
cross-cultural differences
71.
cross-cultural management
72.
cross-cultural study
73.
crossdependencies
74.
cross-disciplinary
75.
cross-enterprise
76.
Cross-Entropy method
77.
cross-functional teams
78.
cross-governmental cooperation
79.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
80.
cross-innovation
81.
Cross-kingdom RNAi
82.
cross-lagged analysis
83.
cross-laminated timber
84.
cross‐laminated timber
85.
cross-language analysis
86.
cross-layered fault management
87.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
88.
cross-linguality
89.
cross-linking
90.
cross-linking polymerscross-linking polymers
91.
cross-national case studies
92.
cross-order harmonic coupling
93.
cross-organizational
94.
cross-section
95.
cross-sectional studies
96.
cross-sectional study
97.
cross-sectoral collaboration
98.
cross-sectoral innovation
99.
cross-sectorial innovation
100.
cross-shore jets
101.
cross-shore profile
102.
deep layer
103.
double-layer capacitance
104.
effective cross section method
105.
effective cross-section method
106.
Ekman layer
107.
electric double-layer
108.
electron transport layer
109.
electronic cross-communication
110.
Equivalent single layer
111.
glaze layer
112.
hole transport layer
113.
interface layer
114.
intrastate and cross-border social movements
115.
layer growing curvature method
116.
layer removing
117.
layer-wise displacement theory
118.
MAC layer
119.
maximal two-layer exchange
120.
mechanically mixed layer (MML)
121.
metallographic cross section
122.
mixed layer drifter
123.
monograin layer solar cell
124.
monograin layer solar cells
125.
network layer
126.
oxide layer
127.
physical layer
128.
protein cross-linking
129.
reduced cross-section method
130.
seed layer
131.
selenium capping layer
132.
SiO2 interface layer
133.
sonogashira cross-coupling
134.
sub-maximal two-layer exchange
135.
Suzuki cross-coupling
136.
zero-strenght-layer
137.
zero‐strength layer
138.
zero-strength layer
139.
zero‐strength layer
140.
ZnS buffer layer
141.
thin layer chromatography
142.
Thin layer chromatography (TLC)
143.
thin-layer chromatography
144.
thin-layer rendering
145.
thin-layer rendering system
146.
thin-layer rendering systems
147.
TiO2 electron transport layer
148.
Trans-European cross-border corridors
149.
tribo-layer
150.
two-photon cross section
151.
upper mixed layer
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT