Otsing - TalTech teadusportaal

AFM and SEM investigations of ion beam synthesized Mg2Si precipitates in Si substrates (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

AFM and SEM investigations of ion beam synthesized Mg2Si precipitates in Si substratesAngelov, Christo; Mikli, Valdek; Amov, Blagoj; Goranova, E.Journal of optoelectronics and advanced materials2005 / 1, p. 369-373 https://old.joam.inoe.ro/arhiva/pdf7_1/Angelov3.pdf

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1