Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Taheri, Mahdi (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(0/0)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
A fault-resistant architecture for AES S-box architecture
Taheri, Mahdi
;
Sheikhpour, Saeideh
;
Ansari, Mohammad Saeed
;
Mahani, Ali
Journal of Applied Research in Electrical Engineering
2021
/
p. 86-92
https://dx.doi.org/10.22055/jaree.2021.36230.1020
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
A high-performance MEMRISTOR-based Smith-Waterman DNA sequence alignment using FPNI structure
Taheri, Mahdi
;
Zandevakili, Hamed
;
Mahani, Ali
Journal of Applied Research in Electrical Engineering
2021
/
p. 59-68
https://dx.doi.org/10.22055/jaree.2021.36117.1016
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errors
Taheri, Mahdi
;
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, May 3-5, 2023, Tallinn
2023
/
p. [?]
https://ddecs2023.taltech.ee/
artikkel kogumikus
4
artikkel ajakirjas
DeepAxe : a framework for exploration of approximation and reliability trade-offs in DNN accelerators
Taheri, Mahdi
;
Riazati, Mohamad
;
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Jenihhin, Maksim
;
Daneshtalab, Masoud
;
Raik, Jaan
;
Sjödin, Mikael
;
Lisper, Björn
arXiv.org
2023
/
8 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2303.0822
artikkel ajakirjas
5
artikkel kogumikus
A novel fault-tolerant logic style with self-checking capability
Taheri, Mahdi
;
Sheikhpour, Saeideh
;
Mahani, Ali
;
Jenihhin, Maksim
Proceedings - 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022
2022
/
art. 183305 : ill
http://doi.org/10.1109/IOLTS56730.2022.9897818
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT