APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errors

vastutusandmed
Mahdi Taheri, Mohammad Hasan Ahmadilivani, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Masoud Daneshtalab
allikas
26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, May 3-5, 2023, Tallinn
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. [?]
konverentsi nimetus, aeg
26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, May 3-5, 2023
konverentsi toimumispaik
Tallinn
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Taheri, M., Ahmadilivani, M.H., Jenihhin, M., Raik, J., Daneshtalab, M. APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errors // 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, May 3-5, 2023, Tallinn. Piscataway, New Jersey : IEEE, 2023. p. [?]. https://ddecs2023.taltech.ee/