Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Orasson, Elmet (TTÜ autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
37
Vaata veel..
(3/6)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(37)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 2007
2007
/
p. 71-77
https://ieeexplore.ieee.org/document/4297319
artikkel kogumikus
27
artikkel kogumikus
Optimization of the store-and-generate based built-in self-test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Aleksejev, Igor
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
2006
/
p. 199-202 : ill
artikkel kogumikus
28
artikkel kogumikus
Research environment for teaching digital test
Ivask, Eero
;
Jutman, Artur
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Synergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 2
2004
/
p. 468-473 : ill
artikkel kogumikus
29
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
30
artikkel kogumikus
Self-learning tool for digital test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Evartson, Teet
Proceedings of 2nd International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of the XXI Century"
2002
/
p. 36-38 : ill
artikkel kogumikus
31
artikkel kogumikus
Sequential circuits BIST with status bit control
Raik, Jaan
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 11th International Conference : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2004 : Szczecin, Poland, 24-26 June 2004
2004
/
p. 507-510 : ill
artikkel kogumikus
32
artikkel kogumikus
Teaching advanced test issues in digital electronics
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic
2005
/
p. S2B-1 - S2B-6 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318
artikkel kogumikus
33
artikkel kogumikus
Teaching diagnostic modeling of digital systems with decision diagrams [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Mironov, Dmitri
;
Evartson, Teet
;
Orasson, Elmet
;
Aarna, Margit
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of 12th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education - CATE 2009 : St.Thomas, US, November 22-24, 2009
2009
/
p. 1-6. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
34
artikkel kogumikus
A tool for teaching hierarchical fault diagnosis in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Evartson, Teet
;
Brik, Marina
Proceedings of 9th European Workshop on Microelectronics Education – EWME’12 : Grenoble, France, May 9-11, 2012
2012
/
p. 1-4
artikkel kogumikus
35
artikkel kogumikus
A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK
2016
/
[6] p. : ill
https://doi.org/10.1109/EWME.2016.7496466
artikkel kogumikus
36
artikkel ajakirjas
Turbo tester - diagnostic package for research and training
Aarna, Margit
;
Ivask, Eero
;
Jutman, Artur
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vislogubov, Vladislav
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Radioelectronics and informatics
2003
/
p. 69-73 : ill
artikkel ajakirjas
37
artikkel ajalehes
WebTT - digitaalskeemide testimine ja diagnostikaalaste õppelaborite e-keskkond : [TTÜ arvutitehnika instituut esitles e-Ülikooli konverentsil kolme õppetöös kasutatavat süsteemi]
Robal, Tarmo
;
Orasson, Elmet
Mente et Manu
2005
/
5. mai, lk. 5 : fot
https://www.ester.ee/record=b1242496*est
artikkel ajalehes
Kirjeid leitud 37, kuvan
26 - 37
eelmine
1
2
järgmine
autor
3
1.
Orasson, Elmet
2.
Elmet, Henn
3.
Soosalu, Elmet
tema kohta
2
1.
Orasson, Elmet
2.
Elmet, Henn, 1941-2002
CV
1
1.
Orasson, Elmet 1974
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT