A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
vastutusandmed
S. Kostin, E. Orasson, R. Ubar
allikas
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
11th European Workshop on Microelectronics Education, May 11-13, 2016
konverentsi toimumispaik
Southampton, UK
ISBN
978-1-4673-8584-8
märkused
Bibliogr.: 12 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
design-for-testability
LFSR
stuck-at fault model
Kostin, S., Orasson, E., Ubar, R. A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits // EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK. [S.l.] : IEEE, 2016. [6] p. : ill.