Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Shibin, Konstantin (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
27
Vaata veel..
(3/49)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(27)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
27
artikkel kogumikus
Virtual reconfigurable scan-chains on FPGAs for optimized board test
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Shibin, Konstantin
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102411
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 27, kuvan
26 - 27
eelmine
1
2
järgmine
autor
26
1.
Shibin, Konstantin
2.
Tang, Shibin
3.
Andronnikov, Konstantin
4.
Bardõš, Konstantin
5.
Dolski, Konstantin
6.
Fokin, Konstantin
7.
Gongalsky, Konstantin B.
8.
Grimm, Konstantin
9.
Grišutin, Konstantin
10.
Jefimov, Konstantin
11.
Jevstropjev, Konstantin
12.
Kaal, Konstantin
13.
Kangur, Konstantin
14.
Kislitsõn, Konstantin
15.
Konik, Konstantin
16.
Kroon, Arnold-Konstantin
17.
Larionov, Konstantin
18.
Mihhailov, Konstantin
19.
Ollik, Konstantin
20.
Päts, Konstantin
21.
Roždestvenski, Konstantin
22.
Tarletski, Konstantin
23.
Tipp, Konstantin
24.
Tippo, Konstantin
25.
Tšertes, Konstantin
26.
Vorobev, Konstantin
CV
13
1.
Shibin, Konstantin
2.
Bilozor, Konstantin
3.
Grimm, Konstantin 1891-1953
4.
Kroon, Arnold Konstantin
5.
Lukjanov, Konstantin 1915-?
6.
Mickfeldt, Konstantin 1886-?
7.
Mihailov, Konstantin
8.
Mihhailov, Konstantin 1928-1989
9.
Ollik, Konstantin 1917-1989
10.
Tam(m)-Stamm, Konstantin
11.
Tamm-Stamm, Konstantin 1868-1937
12.
Tippo, Konstantin Aleksander 1917-2013
13.
Veelmann, Konstantin
tema kohta
10
1.
Shibin, Konstantin
2.
Grimm, Konstantin, 1891-1953
3.
Kangur, Konstantin
4.
Lindquist, Konstantin
5.
Manuilov, Konstantin
6.
Ollik, Konstantin, 1917-1989
7.
Päts, Konstantin, 1874-1956
8.
Tam-Stamm, Konstantin, 1868-?
9.
Tippo, Konstantin, 1917-2013
10.
Tsiolkovski, Konstantin
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT