Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
vastutusandmed
Natalia Cherezova, Konstantin Shibin, Maksim Jenihhin, Artur Jutman
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 146
ilmumisaasta
leheküljed
art. 115010, 10 p. : ill
märksõna
võtmesõna
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 75 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
kvartiil
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Cherezova, N., Shibin, K., Jenihhin, M., Jutman, A. Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications // Microelectronics reliability (2023) vol. 146, art. 115010, 10 p. : ill.