Otsing - TalTech teadusportaal

2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errorsTaheri, Mahdi; Ahmadilivani, Mohammad Hasan; Jenihhin, Maksim; Daneshtalab, Masoud; Raik, Jaan2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)2023 / p. 124−127 : ill https://ddecs2023.taltech.ee/ https://doi.org//10.1109/DDECS57882.2023.10139468

artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid 1
- Methods for reliability assessment and enhancement of deep neural networks hardware accelerators = Süvanärvivõrkude riistvara kiirendite töökindluse hindamine ja täiustamine

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1