Otsing - TalTech teadusportaal

Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopyKask, Erkki; Grossberg, Maarja; Josepson, Raavo; Salu, Pille; Timmo, Kristi; Krustok, JüriMaterials science in semiconductor processing2013 / p. 992-996 : ill https://doi.org/10.1016/j.mssp.2013.02.009 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1