Otsing - TalTech teadusportaal

Computer aided method for measurement of reflection and impedance characteristics of RF devices (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Computer aided method for measurement of reflection and impedance characteristics of RF devicesAsovich, P.L.; Zhukov, S.A.; Ivanyuhin V.I.Automation, simulation & measurement : ASM'91 : 3rd biennal conference, Tallinn, October 7-11, 1991. Section A. Section M / Tallinn Technical University1992 / p. 122-127: ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1