Otsing - TalTech teadusportaal

LATW 2005 : 6th IEEE Latin-American Test Workshop : March 30 - April 2, 2005, Salvador, Bahia, Brazil : [digest of papers] (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Deterministic defect-oriented test generation for combinational circuitsRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Sudbrock, Joachim; Kuzmicz, Wieslaw; Pleskacz, Witold A.LATW 2005 : 6th IEEE Latin-American Test Workshop : March 30 - April 2, 2005, Salvador, Bahia, Brazil : [digest of papers]2005 / p. 325-330 : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1