prindi

EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement

autor
Abideen, Zain Ul
Rashid, Muhammad Haroon
vastutusandmed
Zain Ul Abideen, Muhammad Haroon Rashid
allikas
IEEE Access
kirjastus/väljaandja
IEEE
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 8
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 207705-207716
leitav
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198
märksõna
usaldusväärsus
emuleerimine
manussüsteemid
rikked
riistvara
turvalisus
paindlikkus
võtmesõna
dependability
emulation
embedded systems
fault injection
hardware security
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
flexibility
ISSN
2169-3536
märkused
Bibliogr.: 28 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
WOS
Journal metrics at WOS
Article at WOS
kategooria (üld)
Tehnika
Arvutiteadus
Materjaliteadus
kategooria (alam)
Tehnika. Üldine inseneriteadus
Arvutiteadus. Üldine arvutiteadus
Materjaliteadus. Üldine materjaliteadus
kvartiil
Q1
TTÜ struktuuriüksus
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus
Abideen, Z.U., Rashid, M. EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement // IEEE Access (2020) vol. 8, p. 207705-207716. https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198