Systematic unsupervised recycled field-programmable gate array detection
autor
vastutusandmed
Yuya Isaka, Michihiro Shintani, Foisal Ahmed and Michiko Inoue
allikas
IEEE transactions on device and materials reliability
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 22, 2
ilmumisaasta
leheküljed
10 p. : ill
ISSN
1530-4388
märkused
Bibliogr.: 31 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
kvartiil
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Isaka, Y., Shintani, M., Ahmed, F. Inoue, M. Systematic unsupervised recycled field-programmable gate array detection // IEEE transactions on device and materials reliability (2022) vol. 22, 2, 10 p. : ill. https://doi.org/10.1109/TDMR.2022.3164788