Analyzing side-channel attack vulnerabilities at RTL
autor
vastutusandmed
Xinhui Lai, Maksim Jenihhin
allikas
2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium (LATS)
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
2 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium (LATS) : 21-24 March 2023
konverentsi toimumispaik
Veracruz, Mexico
ISBN
979-8-3503-2597-3
märkused
Bibliogr.: 10 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Lai, X., Jenihhin, M. Analyzing side-channel attack vulnerabilities at RTL // 2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium (LATS). : IEEE, 2023. 2 p. : ill.