Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний
autor
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
с. 39-43
seeria-sari
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 540
Труды ТПИ ; 540
TTÜ märksõna
märkused
Библиогр. : 4 назв
keel
vene
Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний // Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1982. с. 39-43. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 540, Радиотехника ; 10).