EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement
vastutusandmed
Zain Ul Abideen, Muhammad Haroon Rashid
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 8
ilmumisaasta
leheküljed
p. 207705-207716
ISSN
2169-3536
märkused
Bibliogr.: 28 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
võtmesõna
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
klassifikaator
kvartiil
kategooria (üld)
TTÜ struktuuriüksus
Uurimisrühm
Abideen, Z.U., Rashid, M. EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement // IEEE Access (2020) vol. 8, p. 207705-207716.