prindi

Automated test pattern generator with constraint solver

autor
Viilukas, Taavi
Raik, Jaan
vastutusandmed
Taavi Viilukas, Jaan Raik
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]
ilmumisaasta
2010
leheküljed
lk. 33-36
konverentsi nimetus, aeg
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljas aastakonverents, 26.-27. novembril 2010
konverentsi toimumispaik
Essu mõis
märksõna
digitaalintegraallülitused
testimine
testid
raalteimimine
ISBN
978-9949-23-044-0
märkused
Bibliogr.: 3 ref
keel
inglise
Viilukas, T., Raik, J. Automated test pattern generator with constraint solver // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2010. lk. 33-36.