prindi

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking

autor
Raik, Jaan
Fujiwara, Hideo
Ubar, Raimund-Johannes
Krivenko, Anna
vastutusandmed
Jaan Raik, Hideo Fujiwara, Raimund Ubar, Anna Krivenko
allikas
2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium
ilmumiskoht
Kolkata
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 257-262 : ill
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/4711554
märksõna
elektriahelad
rikked
diagnostika (tehnika)
järjendanalüüs
ISBN
978-93-80813-12-7
märkused
Bibliogr.: 11 ref
keel
inglise
Raik, J., Fujiwara, H., Ubar, R., Krivenko, A. Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking // 2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium. Kolkata : IEEE, 2011. p. 257-262 : ill. https://ieeexplore.ieee.org/document/4711554