Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
vastutusandmed
Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
lk. 53-56 : ill
konverentsi nimetus, aeg
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljas aastakonverents, 26.-27. novembril 2010
konverentsi toimumispaik
Essu mõis
ISBN
978-9949-23-044-0
märkused
Bibliogr.: 18 nim
keel
inglise
Kostin, S., Ubar, R., Raik, J. Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2010. lk. 53-56 : ill.