Side-channel attacks on triple modular redundancy schemes
vastutusandmed
Felipe Almeida, Levent Aksoy, Jaan Raik, and Samuel Pagliarini
allikas
2021 IEEE 30th Asian Test Symposium ATS 2021 : proceedings
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 79-84 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2021 IEEE 30th Asian Test Symposium ATS 2021, 22-25 November 2021
konverentsi toimumispaik
Matsuyama, Ehime, Japan
märksõna
WOS
kvartiil
kategooria (üld)
kategooria (alam)
võtmesõna
ISSN
2377-5386
ISBN
978-1-6654-4051-6
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Almeida, F., Aksoy, L., Raik, J., Pagliarini, S. Side-channel attacks on triple modular redundancy schemes // 2021 IEEE 30th Asian Test Symposium ATS 2021 : proceedings. : IEEE, 2021. p. 79-84 : ill.