prindi

Fault diagnosis in VLSI devices

autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Raimund Ubar
allikas
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
ajakirja aastakäik number kuu
1
ilmumisaasta
1995
leheküljed
1, p. 51-67
märksõna
integraallülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
ISSN
1406-0175
märkused
Bibl. 18 ref
retsensioon
Kokkuvõte: Suurte integraalskeemide rikete diagnostika
Резюме: Раймунд Убар. Диагностика неисправностей в больших интегральных схемах
keel
inglise
Ubar, R. Fault diagnosis in VLSI devices // Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering (1995) 1, 1, p. 51-67.